Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique

Julien Fageot (1) , Morgane Henry (2) , Alexis Huet (3) , Gildas Mazo (4) , Stéphane Veys (2)

1 EPFL - Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
2 EDP - Equations aux Dérivées Partielles
3 ICJ - Institut Camille Jordan
4 MISTIS - Modelling and Inference of Complex and Structured Stochastic Systems

Nous nous intéressons à des données issues de mesures de tensions sur des circuits électroniques analogiques. Plus précisément, il s'agit de proposer une analyse de courbes représentant l'évolution en fonction du temps des tensions en différents nœuds d'un circuit électronique. Notre objectif est de proposer une analyse automatisée de la qualité des courbes. Plus précisément, nous proposons ici des méthodes statistiques d'analyse de données capable de : -- Identifier d'éventuels patterns dans les courbes (classification), -- Isoler les courbes présentant des "anomalies" (détection de courbes suspectes).

Mots clés: Mathématiques; Entreprises

Domaines: Mathématiques générales [math.GM]

Julien Fageot, Morgane Henry, Alexis Huet, Gildas Mazo, Stéphane Veys. Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique. 2013. ⟨hal-00933235⟩