Machine Learning Techniques to Predict Sensitive Patterns to Fault Attack in the Java Card Application - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Experimental and Theoretical Artificial Intelligence Année : 2018
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Dates et versions

hal-01645392 , version 1 (23-11-2017)

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Citer

Yayaoui Cheherazed, Jean-Louis Lanet, Mohamed Mezghiche, Karim Tamine. Machine Learning Techniques to Predict Sensitive Patterns to Fault Attack in the Java Card Application. Journal of Experimental and Theoretical Artificial Intelligence, 2018, 30 (1), pp.101-127. ⟨10.1080/0952813x.2017.1409276⟩. ⟨hal-01645392⟩
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