Fault Isolation and Diagnosis: Nuisance Rejection and Multiple Hypothesis Testing - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Fault Isolation and Diagnosis: Nuisance Rejection and Multiple Hypothesis Testing

Domaines

Informatique [cs]

Jean-Baptiste VU VAN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://utt.hal.science/hal-02884605

Soumis le : mardi 30 juin 2020-08:57:31

Dernière modification le : vendredi 12 janvier 2024-16:45:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02884605 , version 1 (30-06-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02884605 , version 1

Citer

Michèle Basseville, Igor V. Nikiforov. Fault Isolation and Diagnosis: Nuisance Rejection and Multiple Hypothesis Testing. 15th IFAC World Congress, 2002, Barcelona, Spain. ⟨hal-02884605⟩

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