Accurate measurements of the thickness of very thin copper oxide layers on copper - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Accurate measurements of the thickness of very thin copper oxide layers on copper

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics] Optimisation et contrôle [math.OC]
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal.science/hal-03624584

Soumis le : mercredi 30 mars 2022-13:31:00

Dernière modification le : vendredi 12 avril 2024-03:08:38

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Dates et versions

hal-03624584 , version 1 (30-03-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03624584 , version 1

Citer

Deniz Cakir, Eric Anglaret, Nicole Frety, Dominique Barchiesi. Accurate measurements of the thickness of very thin copper oxide layers on copper. ICES 2017 - International Confernece on Enhancend Spectrosocpies, Sep 2017, Munchen, Germany. ⟨hal-03624584⟩

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