Mesures de rectangularité et d'ellipticité à partir de la transformée de Radon - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Mesures de rectangularité et d'ellipticité à partir de la transformée de Radon

Résumé

This paper describes an original approach for calculating ellipticity and rectangularity shape descriptors. We propose a new exploitation of the Radon transform to generate a signature which provides global information on the shape of a binary object. The signature allows to keep fundamental geometrical transformation like scale, translation and rotation. The provided results are promising.
Fichier non déposé

Dates et versions

inria-00000240 , version 1 (16-09-2005)

Identifiants

  • HAL Id : inria-00000240 , version 1

Citer

Salvatore Tabbone, Laurent Wendling, Daniel Girardeau-Montaut. Mesures de rectangularité et d'ellipticité à partir de la transformée de Radon. 4ème Colloque International Francophone sur l'Ecrit et le Document - CIFED'2002, Oct 2002, Hammamet/Tunisie, pp.265-274. ⟨inria-00000240⟩
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