Métrologie de composants silicium-germanium à très faible bruit de phase et applications

Gilles Cibiel (1) , Olivier Llopis (1) , J.B. Juraver (1) , Robert Plana (1) , Y. Kersalé (2) , V. Giordano (2) , A. Gruhle (1) , M. Chaubet (3)

1 LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes
2 FEMTO-ST - Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174)
3 CNES - Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]

Domaines: Autre

Gilles Cibiel, Olivier Llopis, J.B. Juraver, Robert Plana, Y. Kersalé, et al.. Métrologie de composants silicium-germanium à très faible bruit de phase et applications. Actes des Journées Nationales Microondes (JNM), 2001, Poitiers, France. pp.5A1. ⟨hal-00085398⟩