OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure

Domaines

Electronique Optique [physics.optics]

Frédéric Darracq  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00327412

Soumis le : mercredi 8 octobre 2008-14:22:14

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:17

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00327412 , version 1 (08-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00327412 , version 1

Citer

F. Essely, Nicolas Guitard, F. Darracq, V. Pouget, Marise Bafleur, et al.. OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure. 3th Workshop EOS/ESD/EMI, May 2006, Toulouse, France. pp.79-81. ⟨hal-00327412⟩

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