Microstructural characterisation by X-ray scattering of perovskite-type La0.8Sr0.2MnO3±thin films prepared by a dip-coating process. - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Materials Science Année : 2007

Microstructural characterisation by X-ray scattering of perovskite-type La0.8Sr0.2MnO3±thin films prepared by a dip-coating process.

Domaines

Chimie inorganique

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https://hal.science/hal-00345216

Soumis le : lundi 8 décembre 2008-16:01:43

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00345216 , version 1 (08-12-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00345216 , version 1

Citer

C. Laberty, P. Lenormand, A. Lecomte, Florence Ansart, Alexandre Boulle. Microstructural characterisation by X-ray scattering of perovskite-type La0.8Sr0.2MnO3±thin films prepared by a dip-coating process.. Journal of Materials Science, 2007, 42, pp.4581-4590. ⟨hal-00345216⟩

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