Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure

Nicolas Guitard (1) , Fabien Essely (2) , David Trémouilles (1) , Marise Bafleur (1) , Nicolas Nolhier (1) , Phillipe Perdu (3) , Andre Touboul (2) , Vincent Pouget (2) , Dean Lewis (2)

1 LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes
2 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
3 CNES - Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]

Domaines: Electronique

Nicolas Guitard, Fabien Essely, David Trémouilles, Marise Bafleur, Nicolas Nolhier, et al.. Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure. Microelectronics Reliability, 2005, 45 (9), pp.1415-1420. ⟨hal-00397706⟩