EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices

Résumé

we investigated for the first time the capabilities of combining Si NCs fabrication methods like e-beam evaporation and ULE-IBS with block copolymers nanostructured masks.
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AnaMBeltran_EMC2012_2.pdf (337.28 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
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Dates et versions

hal-00720334 , version 1 (24-07-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00720334 , version 1

Citer

Celia Castro, A. Andreozzi, Gérard Benassayag, Anna Maria Beltrán, G. Seguini, et al.. EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices. Proceeding of the 15th European Microscopy Conference, Sep 2012, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-00720334⟩
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