Introduction générale sur les EOS/ESD

Marise Bafleur (1)

1 LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes

Cette intervention s'inscrit dans le cadre du Tutorial Décharges électrostatiques (ESD) : du composant au système, organisé par le Centre de Compétences Techniques CCT15 du CNES. Elle a pour objectifs de proposer une introduction générale sur les agressions ESD. Après une brève introduction sur l'origine des ESD, les principaux modèles de décharges, du composant au système sont passés en revue. Ensuite, nous décrivons les mécanismes et signatures de défaillance associés et détaillons les différentes stratégies et mesures de protection à mettre en oeuvre. Pour conclure, nous rapportons les propositions du consortium Industry Council on ESD target levels pour répondre aux exigences ESD dans les technologies DSM qui mettent en avant la nécessité d'avoir une approche globale de protection, du composant au système.

Mots clés: décharges électrostatiques; stratégies de protection; mécanismes de défaillance

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Marise Bafleur. Introduction générale sur les EOS/ESD. Tutorial Décharges électrostatiques (ESD) : du composant au système, Dec 2010, TOULOUSE, France. ⟨hal-01057804⟩