Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10

Philippe Perdu (1) , François Marc (2) , Marise Bafleur (3) , Hélène Fremont (2) , Nicolas Nolhier (3)

1 CNES - Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]
2 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
3 LAAS-ESE - Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Philippe Perdu, François Marc, Marise Bafleur, Hélène Fremont, Nicolas Nolhier (Dir.). Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10. Volume 55, ( Issues 9–10), 2015, Microelectronics Reliability. ⟨hal-01257945⟩