AMELIORATION DE LA RESOLUTION SPATIALE DE SCAN CHAMP PROCHE EN INJECTION
Résumé
L'injection en champ proche est une méthode prometteuse pour l'analyse de la susceptibilité des cartes et composants électroniques aux interférences électromagnétiques. Les cartographies ou scans résultantes de ces injections fournissent une localisation précise des zones sensibles aux interférences électromagnétiques. Un paramètre essentiel est la résolution spatiale des scans, qui dépend de la taille des sondes d'injection et de la distance sonde test. Cet article présente une méthode de post dédiée à l'amélioration de la résolution spatiale des scans d'immunité, validée sur des cas d'étude au niveau carte électronique et circuit intégré.
Domaines
Electronique
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