LOCAL RAMAN PROBING OF SEMICONDUCTOR EPILAYERS IN THE VICINITY OF SURFACE AND INTERFACE
Résumé
no abstract
Chapitre D'ouvrage
Année : 1994
Georges Landa : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01481835
Soumis le : jeudi 2 mars 2017-23:40:42
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01481835 , version 1
Citer
Pascal Puech, P Pizani, O Pages, Georges Landa, Robert Carles, et al.. LOCAL RAMAN PROBING OF SEMICONDUCTOR EPILAYERS IN THE VICINITY OF SURFACE AND INTERFACE. Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors and Devices, pp.93-96, 1994, 0951-3248;0-7503-0294-1. ⟨hal-01481835⟩
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