Bruit électromagnétique et susceptibilité des architectures électroniques en présence d'environnement thermique agressif

Jean-Marc Dienot (1) , Emmanuel Batista (2) , José Gonzalo (1)

1 Labceem - Laboratoire contraintes électromagnétiques et électronique mobile
2 Alstom Transport - Alstom Transport

Ce papier présente une synthèse d'études, principalement expérimentales, menées au LabCEEM-IUT de Tarbes autour des interactions thermique-électromagnétiques dans des architectures électroniques sensibles. Une première partie présente les développements de méthodes et de bancs associés visant à qualifier le comportement CEM : émission, immunité, de cartes électroniques en fonction de la température locale ou ambiante. Des résultats et leurs analyses sur des démonstrateurs électroniques reproduisant des commandes de type numérique et modulables (PWM) sont présentés. Cette synthèse démontre quelques conclusions importantes quant à l'origine et les conséquences de la modification des performances CEM dues à la température.

Mots clés: Emission électromagnétique; Immunité; Température; Circuits électroniques

Domaines: Electromagnétisme

Jean-Marc Dienot, Emmanuel Batista, José Gonzalo. Bruit électromagnétique et susceptibilité des architectures électroniques en présence d'environnement thermique agressif. Congrés National de la Recherche en IUT CNRIUT 2016, Jun 2016, NANTES, France. pp.0. ⟨hal-01546906⟩