Defects and Strain imaging of ion implanted materials - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Defects and Strain imaging of ion implanted materials

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01763647 , version 1 (11-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01763647 , version 1

Citer

Alain Claverie, Nikolay Cherkashin. Defects and Strain imaging of ion implanted materials . Ion Implantation Technology 2014, Jun 2014, Portland, United States. ⟨hal-01763647⟩
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