Advanced methods for strain measurements in crystalline materials by transmission electron microscopy”, Nanostructures: Physics and Technology - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Advanced methods for strain measurements in crystalline materials by transmission electron microscopy”, Nanostructures: Physics and Technology

Nikolay Cherkashin
Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme
CV

Domaines

Physique [physics]

Isabelle Labau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01767536

Soumis le : lundi 16 avril 2018-12:04:09

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01767536 , version 1 (16-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01767536 , version 1

Citer

Nikolay Cherkashin. Advanced methods for strain measurements in crystalline materials by transmission electron microscopy”, Nanostructures: Physics and Technology. 26th Intern. Symposium, Jun 2018, Minsk, Belarus. ⟨hal-01767536⟩

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