Strain mapping of advanced electronic devices by TEM based methods. - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Strain mapping of advanced electronic devices by TEM based methods.

Alain Claverie
Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme
Victor Boureau
Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme
David N Cooper
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics]

Isabelle Labau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01767810

Soumis le : lundi 16 avril 2018-15:42:06

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01767810 , version 1 (16-04-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01767810 , version 1

Citer

Alain Claverie, Victor Boureau, David N Cooper. Strain mapping of advanced electronic devices by TEM based methods.. International Conference on Microscopy and 39th Annual meeting of EMSI, Jul 2018, Bhubaneswar, India. ⟨hal-01767810⟩

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