Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy

C. Riedel (1) , R. Arinero (1, 2) , Philippe Tordjeman (3) , M. Ramonda (1) , Gaëtan Lévêque (1) , A. Schwartz (4) , D. Oteyza , A. Alegria , J. Colmenero (5)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 NANOMIR - Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge
3 IMFT - Institut de mécanique des fluides de Toulouse
4 CBM - Centre de biophysique moléculaire
5 Materials Physics Center CSIC-UPV/EHU and Donostia International Physics Center, San Sebastián, Spain

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

C. Riedel, R. Arinero, Philippe Tordjeman, M. Ramonda, Gaëtan Lévêque, et al.. Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy. Journal of Applied Physics, 2009, 106 (2), ⟨10.1063/1.3182726⟩. ⟨hal-01791002⟩