Imaging NanoDielectrics with Electrostatic Force Microscopy

Richard Arinero (1, 2) , Clément Riedel (1) , Gustavo Ariel Schwartz (3) , N. E. Israeloff (4) , Angel Alegría (5) , Philippe Tordjeman (6) , Juan Colmenero (7)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 NANOMIR - Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge
3 CFM - Centro de Fisica de Materiales
4 Northeastern University [Boston]
5 UPV/EHU - Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea [Espagne]
6 IMFT - Institut de mécanique des fluides de Toulouse
7 UPV / EHU - University of the Basque Country = Euskal Herriko Unibertsitatea

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Richard Arinero, Clément Riedel, Gustavo Ariel Schwartz, N. E. Israeloff, Angel Alegría, et al.. Imaging NanoDielectrics with Electrostatic Force Microscopy. The 13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy, Jul 2010, Kanazawa, Japan. ⟨hal-01813930⟩