Quantitative mapping of the dielectric constant of thin insulating layers at nanoscale - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01813997 , version 1 (12-06-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01813997 , version 1

Citer

Clément Riedel, Richard Arinero, Philippe Tordjeman, Gérard Leveque, Gustavo Ariel Schwartz, et al.. Quantitative mapping of the dielectric constant of thin insulating layers at nanoscale. Perspectives in Nanoscience and Nanotechnology – Nano2009, Sep 2009, San Sebastian, Spain. ⟨hal-01813997⟩
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