Determination of the Nanoscale dielectric permittivity by means of a double pass method using EFM

Clément Riedel (1) , Richard Arinero (1, 2) , Philippe Tordjeman (3) , Michel Ramonda (4) , Gérard Leveque (1) , Gustavo Ariel Schwartz (5) , Angel Alegría (6) , Juan Colmenero (6)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 NANOMIR - Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge
3 IMFT - Institut de mécanique des fluides de Toulouse
4 UM - Université de Montpellier
5 CFM - Centro de Fisica de Materiales
6 UPV / EHU - University of the Basque Country = Euskal Herriko Unibertsitatea

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Clément Riedel, Richard Arinero, Philippe Tordjeman, Michel Ramonda, Gérard Leveque, et al.. Determination of the Nanoscale dielectric permittivity by means of a double pass method using EFM. inanoGUNE ETORTEK 1st Workshop, May 2009, San Sebastian, Spain. ⟨hal-01814138⟩