Strain analysis in transmission electron microscopy: how far can we go? - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP

Chapitre D'ouvrage Année : 2011

Strain analysis in transmission electron microscopy: how far can we go?

(1) , (2) , (1) , (3)

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3

Anne Ponchet

Fonction : Auteur
PersonId : 18513
IdHAL : anne-ponchet
IdRef : 033125554

Surfaces, Interfaces et Nano-Objets

Christophe Gatel

Fonction : Auteur
PersonId : 11804
IdHAL : christophe-gatel
ORCID : 0000-0001-5549-7008
IdRef : 08954840X

Interférométrie, In situ et Instrumentation pour la Microscopie Electronique

Marie-José Casanove

Fonction : Auteur
PersonId : 18522
IdHAL : marie-jose-casanove
ORCID : 0000-0002-5239-7076
IdRef : 032157290

Surfaces, Interfaces et Nano-Objets

Christian Roucau

Fonction : Auteur

Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Matériaux

Anne Ponchet : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01871301

Soumis le : lundi 10 septembre 2018-15:54:55

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:11

Dates et versions

hal-01871301 , version 1 (10-09-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01871301 , version 1

Citer

Anne Ponchet, Christophe Gatel, Marie-José Casanove, Christian Roucau. Strain analysis in transmission electron microscopy: how far can we go?. Mechanical Stress on the Nanoscale: Simulation, Material Systems and Characterization Techniques, Wiley, pp.191-212, 2011, 978-3-527-41066-8. ⟨hal-01871301⟩

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