Igor Jovančević, H.-H. Pham, Jean-José Orteu, Rémi Gilblas, J. Harvent, et al.. Détection et caractérisation de défauts par analyse des nuages de points 3D fournis par un scanner.
15ème Colloque Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie, Le Mans (France), 20-24 mars 2017., 2017, Le Mans, France.
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