Finite element based surface roughness study for ohmic contact of microswitches
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2012
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https://hal.science/hal-02186310
Soumis le : mercredi 17 juillet 2019-11:46:36
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:20
Citer
H. Liu, Dimitri Leray, Stéphane Colin, P. Pons, A. Broué. Finite element based surface roughness study for ohmic contact of microswitches. 58th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Portland, Oregon, USA, 2012, Portland, Oregon, United States. pp.6336607:1-10, ⟨10.1109/HOLM.2012.6336607⟩. ⟨hal-02186310⟩
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