Effect of thermal and electrical stress on photometric, radiometric, and colorimetric characteristics of large area white organic light emitting diodes - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Effect of thermal and electrical stress on photometric, radiometric, and colorimetric characteristics of large area white organic light emitting diodes

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Génie des procédés Optique / photonique Energie électrique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

LAURENT CANALE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02435713

Soumis le : samedi 11 janvier 2020-11:37:34

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02435713 , version 1 (11-01-2020)

Identifiants

Citer

Alaa Alchaddoud, Laurent Canale, Jamal Rammal, Georges Zissis. Effect of thermal and electrical stress on photometric, radiometric, and colorimetric characteristics of large area white organic light emitting diodes. 2018 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS2018), Sep 2018, Portland, United States. pp.1-5, ⟨10.1109/IAS.2018.8544590⟩. ⟨hal-02435713⟩

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