Study of high brightness LED samples aged under stress temperature conditions: Electrical characterizations and signature evolution analysis - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP

Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Study of high brightness LED samples aged under stress temperature conditions: Electrical characterizations and signature evolution analysis

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Laurent Canale

Fonction : Auteur
PersonId : 21896
IdHAL : laurent-canale
ORCID : 0000-0003-1097-889X
IdRef : 069285187

Lumière et Matière

Centre National de la Recherche Scientifique

Pascal Dupuis

Fonction : Auteur
PersonId : 736871
IdHAL : pascal-dupuis
ORCID : 0000-0002-2966-9424
IdRef : 228241154

Lumière et Matière

Université Toulouse III - Paul Sabatier

Georges Zissis

Fonction : Auteur
PersonId : 181274
IdHAL : georges-zissis
ORCID : 0000-0002-7582-5686
IdRef : 084597046

Lumière et Matière

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Génie des procédés Optique / photonique Energie électrique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

LAURENT CANALE : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02435750

Soumis le : samedi 11 janvier 2020-12:47:49

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21

Dates et versions

hal-02435750 , version 1 (11-01-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02435750 , version 1
DOI : 10.1109/IAS.2013.6682543

Citer

Laurent Canale, Pascal Dupuis, Georges Zissis. Study of high brightness LED samples aged under stress temperature conditions: Electrical characterizations and signature evolution analysis. 2013 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, Oct 2013, Lake Buena Vista, United States. pp.1-5, ⟨10.1109/IAS.2013.6682543⟩. ⟨hal-02435750⟩

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