Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Année : 2005
Sonia Ben Dhia : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02523696
Soumis le : dimanche 29 mars 2020-15:41:18
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:17
Citer
Sonia Ben Dhia, B. Vrignon, S.D. Bendhia, E. Lamoureux, E. Sicard. Characterization and Modeling of Parasitic Emission in Deep Submicron CMOS. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2005, 47 (2), pp.382-387. ⟨10.1109/TEMC.2005.847408⟩. ⟨hal-02523696⟩
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