‘ig,vgs’ Monitoring for Fast and Robust SiC MOSFET Short-Circuit Protection with High integration Capability - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

‘ig,vgs’ Monitoring for Fast and Robust SiC MOSFET Short-Circuit Protection with High integration Capability

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hal-02980827 , version 1 (27-10-2020)

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Citer

Yazan Barazi, François Boige, Nicolas C. Rouger, Jean-Marc Blaquiere, Frédéric Richardeau. ‘ig,vgs’ Monitoring for Fast and Robust SiC MOSFET Short-Circuit Protection with High integration Capability. 2020 22nd European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'20 ECCE Europe), Sep 2020, Lyon (Virtual ), France. pp.P.1-P.10, ⟨10.23919/EPE20ECCEEurope43536.2020.9215619⟩. ⟨hal-02980827⟩
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