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hal-03003165v1  Conference papers
Charles RigoudyK MakashevaMohamed BelhajSarah DadouchG. Teyssedre et al.  Rational Engineering of the Dielectric Properties of Thin Silica Layers with a Single Plane of AgNPs
IEEE Internat. Conf. on Dielectrics (ICD), Valencia, Spain, 5-9 July 2020, Jul 2020, Valencia, Spain. pp. 205-208
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hal-02448461v1  Journal articles
Christina Villeneuve-FaureLaurent BoudouK MakashevaG. Teyssedre. Atomic force microscopy developments for probing space charge at sub-micrometer scale in thin dielectric films
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2016, 23 (2), pp.713-720. ⟨10.1109/TDEI.2016.005319⟩
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hal-01053188v1  Conference papers
G. TeyssedreChristina VilleneuvePatrick PonsLaurent BoudouK Makasheva et al.  Challenges in probing space charge at sub-micrometer scale
Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), Oct 2012, Montreal, Canada. 5 p
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hal-00670156v1  Conference papers
K MakashevaBernard DespaxLaurent BoudouG. TeyssedreL. Ressier et al.  Dielectric layers with gradual properties
IEEE International Conference on Solid Dielectrics, Jul 2010, Potsdam, Germany. 4 p
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hal-03034154v1  Conference papers
Christina Villeneuve-FaureAbderrahmane BoularasLaurent BoudouK MakashevaG. Teyssedre. Utilisation des courbes de force pour l'étude à l'échelle nanométrique des charges piégées dans les diélectriques en couches minces
18e Forum des microscopies à sonde locale, Forêt d'Orient, 16-20 Mars 2015, Mar 2015, Forêt d'Orient, France. pp. 109-110
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hal-03032206v1  Conference papers
Christina VilleneuveFlorian MortreuilLaurent BoudouK MakashevaG. Teyssedre. Méthodologie pour la mesure de charges d'espace par microscopie à sonde de Kelvin (KPFM)
19e Forum des microscopies à sonde locale, Sochaux, 21-25 Mars 2016, Mar 2016, Sochaux, France. p.72