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hal-01343978v3  Conference papers
Richard MonflierToshiyuki TabataFuccio CristianoInès Toque-TresonneFulvio Mazzamuto et al.  Defect investigation of excimer laser annealed silicon
IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference, Oct 2016, Toulouse, France
hal-01690886v1  Conference papers
Richard MonflierAmin BenyoucefMégane TurpinFuccio CristianoEléna Bedel-Pereira. Etude des défauts induits par recuit laser excimer sur silicium
20èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2017), Nov 2017, Strasbourg, France. 1p
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tel-02162058v1  Theses
Richard Monflier. Etude des défauts induits par recuit laser excimère dans le silicium
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Toulouse 3 Paul Sabatier (UT3 Paul Sabatier), 2019. Français
hal-02051962v1  Journal articles
Eléna Bedel-PereiraRichard MonflierMathieu TheneBernard FrancLudovic Salvagnac et al.  Magnetic Field Effects in X-Ray Damaged NPB and MADN OLEDs
IEEE Transactions on Magnetics, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, 55 (2), pp.1-4. ⟨10.1109/TMAG.2018.2856590⟩
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hal-01245628v2  Conference papers
Richard MonflierKarine IsoirdAlain CazarréJosiane TasselliAlexandra Servel et al.  Diodes Schottky diamant fonctionnant à 200°C
Symposium de Génie Electrique, G2Elab, Jun 2016, Grenoble, France
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hal-01618095v1  Journal articles
Richard MonflierKarine IsoirdAlain CazarréJosiane TasselliAlexandra Servel et al.  Diamond Schottky diodes operating at 473 K
European Power Electronics and Drives Journal, Taylor & Francis, 2017, 27 (3), pp.118-124. ⟨10.1080/09398368.2017.1388625⟩