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	hal-02005757v1 Journal articles M. Azib, F. Baudoin, Nicolas Binaud, C. Villeneuve-Faure, G. Teyssedre et al. Sensitivity analysis of the electrostatic interaction between the atomic force microscopy probe and a thin dielectric film with 3D-localized charge cloud Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2019, 125 (4), pp.045305. ⟨10.1063/1.5060655⟩
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