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hal-02047623v1  Conference papers
Igor JovančevićH.-H. PhamJean-José OrteuRémi GilblasJ. Harvent et al.  Détection et caractérisation de défauts par analyse des nuages de points 3D fournis par un scanner
15ème Colloque Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie, Le Mans (France), 20-24 mars 2017., 2017, Le Mans, France