Université Toulouse III - Paul Sabatier - Search

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	tel-00512333v1 Theses Jinyu Jason Ruan. Analyse et modélisation de l'impact des décharges électrostatiques et des agressions électromagnétiques sur les microcommutateurs Networking and Internet Architecture [cs.NI]. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2010. English
	hal-00668827v1 Journal articles Jinyu Jason Ruan, Nicolas Monnereau, David Trémouilles, Nicolas Mauran, Fabio Coccetti et al. An Accelerated Stress Test Method for Electrostatically Driven MEMS Devices IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, pp.456-461. ⟨10.1109/TIM.2011.2161937⟩
	hal-00591017v1 Journal articles Vincent Puyal, Daniela Dragomirescu, Christina Villeneuve, Jinyu Jason Ruan, Patrick Pons et al. Frequency Scalable Model for MEMS Capacitive Shunt Switches at Millimeter Wave Frequencies IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 57 (11), p.2824-2833
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