REGINA test mask: research on EMC guidelines for integrated automotive circuits

C. Lochot; S. Calvet; Sonia Ben Dhia; E. Sicard

doi:10.1016/j.mejo.2003.11.007

Article Dans Une Revue Microelectronics Journal Année : 2004

REGINA test mask: research on EMC guidelines for integrated automotive circuits

, , (1) , (2)

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C. Lochot

Fonction : Auteur

S. Calvet

Fonction : Auteur
PersonId : 740776
IdHAL : scalvet
IdRef : 112108725

Sonia Ben Dhia

Fonction : Auteur
PersonId : 14027
IdHAL : sonia-ben-dhia
IdRef : 078048257

Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes

E. Sicard

Fonction : Auteur

Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electromagnétisme Electronique

Sonia Ben Dhia : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02523699

Soumis le : dimanche 29 mars 2020-15:44:40

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:17

Dates et versions

hal-02523699 , version 1 (29-03-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02523699 , version 1
DOI : 10.1016/j.mejo.2003.11.007

Citer

C. Lochot, S. Calvet, Sonia Ben Dhia, E. Sicard. REGINA test mask: research on EMC guidelines for integrated automotive circuits. Microelectronics Journal, 2004, 35 (6), pp.509-523. ⟨10.1016/j.mejo.2003.11.007⟩. ⟨hal-02523699⟩

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